X射线荧光光谱仪由莫塞莱定量可以看来，特征X射线的波长与元素的原子序数间有单值关系。根据这个定律，只要测出某元素发出的一组特征X射线的波长，就可以确定它是什么元素。目前除了超轻元素外，绝大部分元素的特征X射线的波长都已由实验测出，并已制成表。这样，只要查表对照就可确定被分析的是什么元素。这就是X射线荧光的定性分析方法。
在定性分析的基础上，如果还能测出特征谱线的强度，然后把它和标准含量样品的特征谱线强度相比较，就可确定被分析元素的含量。这就是X射线荧光的定量分析方法。当然，这仅是分析方法中的一种，即所谓的外标法。此外，还有内标法、增量法、数学方法等。
X射线荧光分析仪具有检测元素广、分析速度快，准确率较高等特点，可大大减轻分析人员的劳动强度，及时提供分析依据。
现代X射线荧光光谱仪分两种类型：波长色散型与能量色散型。波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF)一般由光源（X射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成；能量色散型荧光光谱仪（ED-XRF），一般由光源（X射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它不用分光晶体。
针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测