EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平
的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
1、测量
尽管目前各家能量色散仪器（均为Si-PIN 类型）生产商和销售商都给出了很高的技术指标，但在实际应用中（特别在被测样品不进行处理的情况下），真正可以期待的准确度都在200~300ppm 之间（测量塑料中有害元素时，准确度会好一些；对不规则样品，则会更差）；波长色散X 荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型要高一个数量级，基本在20~50ppm左右。
2、测量时间
由于波长色散配备较大功率的X 光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时，便能达到较高的测量。
3、被测量样品的要求
由于技术特点的差异，波长色散X 荧光分析仪需要对被测仪量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。
能量色散型仪器的优势在于：可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量，对样品也没有任何损坏，适合直接用于生产的过程控制中；
但需要强调指出的是：从荧光理论上，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。
4、*佳应用范围
由于波长色散和能量色散类型X 荧光分析仪各自的技术特点，两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同；波长色散X 荧光分析仪具有较高的测量，但同时需要对被测量样品进行简单处理，更适用于进厂原材料、半成品、成品的检测和质量控制；能量色散X 荧光分析仪虽然测量稍差，但具有快速、直接测量各种形状样品的优点，因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。
5、能量分辨率
能量分辨率是X 荧光分析仪器的主要指标，分辨率数值越小，分辨率越高，仪器性能越。
6、荧光强度
对于X 荧光分析仪器来说，各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系；荧光强度越高，则统计误差越小，测量的准确度越高，仪器性能越好。
7、使用寿命
波长色散类型仪器的使用寿命一般为10 年以上；能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5 年，影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分老化导致其性能指标变差。
