工业计算机断层扫描（CT）是任何计算机辅助断层扫描的过程，通常是X射线计算机断层扫描，它使用辐射来产生被扫描物体的三维内部和外部表示。工业CT扫描已经在工业的许多领域中用于部件的内部检查。工业CT扫描的一些关键用途是缺陷检测、故障分析、计量、装配分析和逆向工程应用。就像医学成像一样，工业成像包括非断层摄影术（工业射线照相术）和计算机断层摄影术（计算机断层扫描）。
1972年，戈弗雷·豪恩菲尔德（Godfrey Hounsfield）发明了用于医学成像的CT扫描机，从而引入了工业CT扫描技术。这项发明为他赢得了诺贝尔医学奖，他与艾伦·麦克劳德·科马克（Allan McLeod Cormack）分享该奖。除了主要用于医疗领域的视觉检查（医学CT扫描）之外，CT扫描的许多进展还使其在工业计量领域得到应用。
各种检查用途和技术包括零件与CAD的比较、零件与零件的比较、装配和缺陷分析、空隙分析、壁厚分析和CAD数据的生成。CAD数据可用于逆向工程、几何尺寸和公差分析以及生产零件的批准。
3.1 装配
使用CT公认的分析形式之一是用于装配或视觉分析。CT扫描无需拆卸，便可提供了功能位置的部件内部视图。一些工业CT扫描软件程序允许从CT数据集的体绘制中进行测量。这些测量对于确定组装零件之间的间隙或单个特征的尺寸非常有用。
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