天瑞X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X射线荧光谱仪产生于上世纪50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
江苏天瑞仪器股份有限公司（Jiangsu Skyray Instrument Company Limited sz:300165）成立于1992年，是的分析仪研发、生产、销售一体型企业。公司拥有国际一流的技术领域的队伍，具有雄厚的资金势力、的技术水平、一流服务标准和先进的管理模式。同时，公司与国内外相关领域的研究院所和企业保持着密切的合作关系，实时追踪国际X荧光分析领域前沿的理论和技术。
性能优势
快—1秒钟出结果
采用行业的极速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达600KCPS
采用大功率X光管及先进的准直滤光系统
优势：激发效率更高
光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试
精密的定位系统
超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
超小样品检测——可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器可达0.2毫米，针对超小样品可准确聚焦检测
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置——光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，
关机前可设定声光提示
技术参数
测量元素范围 ：硫（S）～铀（U）
测量时间：1s或以上
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
含量范围：2ppm～99.9%
管压：5～50KV
管流：≤1000uA
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
准直器：8种准直器自动切换
滤光片：4种滤光片自由切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）